失敗から学ぶユーザインタフェース : 世界はBADUI(バッド・ユーアイ)であふれている / 中村聡史著
シッパイ カラ マナブ ユーザ インタフェース : セカイ ワ バッド・ユーアイ デ アフレテ イル
| Publisher | 東京 : 技術評論社 |
|---|---|
| Year | 2015.2 |
| Authors | 中村, 聡史(1976-) <ナカムラ, サトシ> |
Hide book details.
| Location | Volume | Call No. | Barcode No. | Status | Comments | ISBN | Printed | Restriction | Reserve |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Library Main Building 3rd fl. (Books in Japanese) |
|
5000:1177 | 111082359U |
|
9784774170640 |
|
|
Hide details.
| Material Type | Books |
|---|---|
| Size | viii, 247p : 挿図 ; 23cm |
| Other titles | title page title:失敗から学ぶユーザインタフェース : BADUI variant access title:ユーザインタフェース : 失敗から学ぶ : 世界はBADUIであふれている |
| Notes | ユーザインタフェース関係の書籍: p242-243 |
| Subjects | BSH:ユーザーインターフェース(コンピュータ) NDLSH:ユーザビリティ |
| Classification | NDLC:M371 NDC8:007.6 NDC9:007.6 NDC9:501.8 |
| Language | Japanese |
| ID | 1001133406 |
| ISBN | 9784774170640 |
| NCID |
BB17769922 
|
Similar Items
Usage statistics of this contents
Number of accesses to this page：5times