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論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]
ロンリ ト テスト
(岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2)

Publisher 東京 : 岩波書店
Year 1985.5
Authors 樹下, 行三(1936-) <キノシタ, コウゾウ>
浅田, 邦博 <アサダ, クニヒロ>
唐津, 修(1947-) <カラツ, オサム>

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Library Periodicals Annex 1st fl. (Kodaira Classification)
835:288:4 218050155R
4000101846

Library Restricted Access Stacks
接開/S:538:4 116005652Q



IER Library
Sa:70:4 5188786858
4000101846

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Material Type Books
Size x, 313p ; 22cm
Notes 参考書: p303-305
Subjects NDLSH:集積回路
Classification NDC8:549
NDC8:549.08
NDC7:549.92
NDLC:ND351
NDLC:ND386
Language Japanese
ID 0000022022
ISBN 4000101846
NCID BN00059257 WCLINK

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