論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]
ロンリ ト テスト
(岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2)
Publisher | 東京 : 岩波書店 |
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Year | 1985.5 |
Authors | 樹下, 行三(1936-) <キノシタ, コウゾウ> 浅田, 邦博 <アサダ, クニヒロ> 唐津, 修(1947-) <カラツ, オサム> |
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Location | Volume | Call No. | Barcode No. | Status | Comments | ISBN | Printed | Restriction | Reserve |
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Library Periodicals Annex 1st fl. (Kodaira Classification) |
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835:288:4 | 218050155R |
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4000101846 |
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Library Restricted Access Stacks |
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接開/S:538:4 | 116005652Q |
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IER Library |
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